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產品詳細說明
電子器件高低溫沖擊試驗箱是一樣的意思,針對的是同一類同一標準的試驗箱,此類試驗箱是提供給電子器件在瞬間下經極高溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在*短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業材料行業必備的試驗設備，結構分為兩箱式和三箱式，區別在于試驗方式和內部結構不同，產品符合標準為：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.1-2008試驗A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。
電子器件高低溫沖擊試驗箱技術參數:
電子器件高低溫沖擊試驗箱技術參數:
1.內箱尺寸*小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司還有眾多標準尺寸可選擇,也可定制非標尺寸）
2.外箱尺寸：以實際尺寸為標準。
3.高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃；
4.升溫時間： +60℃～200℃≤30min；
5.低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃；
6.降溫時間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉時的性能﹚
7.試驗方式： 氣動風門切換
8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚
9.溫度偏差： ±2.0℃
10.溫度波動度： ±0.5℃
11溫度恢復時間： ≤5分鐘
12.試樣限制：本實驗設備禁止易爆、易燃、易揮發性物質試樣的試驗或儲存；腐蝕性物質試樣的試驗或儲存；
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